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足球米兰官网首页經過長期不斷的試驗，研發了一款新型的更快速的米兰娱乐app推荐苹果-熱流儀(yi) ，氣流衝(chong) 擊試驗箱。

熱流儀(yi) ，氣流衝(chong) 擊試驗箱適用於(yu) 各類半導體(ti) 芯片、內(nei) 存Flash/EMMC、PCB電路板IC光通訊（如收發器transceiver高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業(ye) 等進行IC特性分析、高低溫循環測試、溫度衝(chong) 擊測試、失效分析等可靠性試驗。

熱流儀(yi) ，氣流衝(chong) 擊試驗箱

熱流儀(yi) 是一種用於(yu) 測量物體(ti) 表麵溫度的儀(yi) 器。它的原理是基於(yu) 熱傳(chuan) 導定律和熱電效應。

熱傳(chuan) 導定律是指在恒定溫度下,熱量從(cong) 高溫區域傳(chuan) 導到低溫區域的速率與(yu) 溫度梯度成正比。熱流儀(yi) 利用這一定律,通過測量物體(ti) 表麵的溫度分布來計算熱流量.熱流儀(yi) 的工作原理是利用熱電偶原理，在兩(liang) 個(ge) 不同溫度的熱電偶之間建立熱流場，在標準溫度下進行熱流計算，從(cong) 而測量材料熱傳(chuan) 導係數和熱導率。